物理層測(cè)試解決方案

物理層測(cè)試解決方案

專(zhuān)為嵌入式計(jì)算量身定制的工具可加快測(cè)試和調(diào)試速度。

  • 支持廣泛采用的芯片間通信 標(biāo)準(zhǔn)
  • 全面的 DDR 解決方案
  • TDME 是提高調(diào)試和驗(yàn)證效率的軟件選項(xiàng)
測(cè)試和培訓(xùn)

測(cè)試和培訓(xùn)

力科的 Austin Labs 是專(zhuān)業(yè)的獨(dú)立測(cè)試和培訓(xùn)服務(wù)提供商，專(zhuān)注于服務(wù)器、存儲(chǔ)和網(wǎng)絡(luò)接口，包括 PHY 測(cè)試和協(xié)議分析。

  • 線下和線上培訓(xùn)課程介紹完整的以太網(wǎng)網(wǎng)絡(luò)和光纖通道結(jié)構(gòu)
  • 廣泛的硬件、集成/互操作、故障分析和特性測(cè)試服務(wù)
探索Austin Labs

I2C、SPI、雙 SPI、四 SPI、UART-RS232、USB 2.0 HSIC 以及 10/100/1000Base-T、NBase-T 和 10GBase-T 以太網(wǎng)

示波器觸發(fā)、解碼和其他工具加速嵌入式計(jì)算系統(tǒng)的測(cè)試和調(diào)試

I2C

I2C

  • 在所有幀觸發(fā)器中設(shè)置 ACK 條件
  • EEPROM 讀/寫(xiě) 2048 字節(jié)能力
  • 幀長(zhǎng)觸發(fā)能力
探索 I2C
SPI

SPI

  • 通用 SPI 支持（無(wú)需 CS）
  • USART 協(xié)議的幀定義
  • 靈活的 Bits/Word 解碼設(shè)置
探索 SPI
QSPI

QSPI

  • 支持簡(jiǎn)單數(shù)據(jù) SPI、雙 SPI 和四 SPI
  • 通過(guò)顏色編碼疊加獲得更多見(jiàn)解
  • 利用強(qiáng)大的觸發(fā)功能加快調(diào)試速度
探索 QSPI TD
UART-RS232

UART-RS232

  • 可配置的字節(jié)結(jié)構(gòu)
  • 專(zhuān)有協(xié)議的可定制消息幀
  • 支持9位地址
探索 UART-RS232
USB 2.0 HSIC

USB 2.0 HSIC

  • 支持 480 Mbps USB2-HSIC 解碼
  • ProtoSync 顯示事務(wù)級(jí)別的 HSIC 信息流
  • 快速搜索特定消息
探索 USB2-HSIC
10/100/1000Base T

10/100/1000Base T

  • 解碼 10/100Base-T 和 MDIO
  • 10/100/1000Base-T 一致性測(cè)試
  • 無(wú)需探頭即可執(zhí)行一致性測(cè)試
探索 10/100/1000Base-T 一致性測(cè)試 探索 10/100Base-T 解碼 探索 MDIO 解碼
QPHY-NBASE-T 自動(dòng)一致性測(cè)試軟件

NBase-T 和 10GBase-T 一致性測(cè)試

  • 包括所有 PMA 發(fā)射機(jī)測(cè)試
  • 無(wú)需額外的頻譜分析儀
  • 全面且易于閱讀的測(cè)試報(bào)告
探索 NBase-T 合規(guī)性 探索 10GBase-T 合規(guī)性

復(fù)雜信號(hào)的簡(jiǎn)單觸發(fā)

Teledyne LeCroy 的區(qū)域觸發(fā)軟件選項(xiàng)提供了一個(gè)簡(jiǎn)單的圖形繪圖工具，可輕松觸發(fā)復(fù)雜信號(hào)。

  • 快速點(diǎn)擊并繪制各種自定義形狀，或繪制矩形
  • 視覺(jué)指示器提供實(shí)時(shí)觸發(fā)后狀態(tài)
  • 直通模式減少了故障排除和設(shè)置時(shí)間
 

全面的 DDR 解決方案

最全面的 DDR2/3/4/5 and LPDDR2/3/4/5混合信號(hào)示波器解決方案

DDR 工具包

DDR 工具包

  • 輕松的讀寫(xiě)突發(fā)分離
  • 眼圖分析
  • DDR 特定參數(shù)測(cè)量
物理層一致性

物理層一致性

  • 完整的 JEDEC 測(cè)試覆蓋
  • 完整注釋的屏幕截圖
  • 自動(dòng)報(bào)告生成
無(wú)與倫比的探測(cè)多功能性

強(qiáng)大的探測(cè)多樣性

  • 堅(jiān)固的焊接前端
  • 卓越的信號(hào)保真度
  • 簡(jiǎn)單又劃算
探索 DDR 物理層測(cè)試解決方案

觸發(fā)、解碼、測(cè)量/圖形、眼圖

強(qiáng)大而獨(dú)特的 TDME 選項(xiàng)可實(shí)現(xiàn)更高的調(diào)試和驗(yàn)證效率。

最高性能觸發(fā)器

強(qiáng)大的觸發(fā)器和解碼器

  • 靈活的觸發(fā)能力
  • 直觀的顏色編碼疊加層
  • 過(guò)濾特定數(shù)據(jù)的解碼表
探索最高性能觸發(fā)器
用于驗(yàn)證效率的測(cè)量和圖表工具

獨(dú)特的測(cè)量和圖表工具

  • 串行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為模擬信號(hào)的繪圖工具
  • 自動(dòng)時(shí)序測(cè)量
  • 總線狀態(tài)測(cè)量
探索驗(yàn)證效率的測(cè)量和圖表工具
眼圖和物理層測(cè)試

靈活的眼圖分析能力

  • 支持同時(shí)分析4路眼圖
  • 用戶(hù)定義或預(yù)定義的模板
  • 額外的物理層測(cè)試
探索眼圖和物理層測(cè)試

視頻

 
示波器區(qū)域觸發(fā)簡(jiǎn)介
視頻
 
TDME
視頻
視頻庫(kù)

技術(shù)文檔

低速串行數(shù)據(jù)設(shè)備表征和故障排除的高級(jí)概念

了解可用于包含各種嵌入式計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)的各種診斷。

低速串行總線的捕獲、解碼和調(diào)試

概述捕獲、查看、解碼和調(diào)試各種低速串行數(shù)據(jù)協(xié)議的方法。

i2C 條件數(shù)據(jù)觸發(fā)

了解如何隔離和識(shí)別特定 I2C 總線事件以提高驗(yàn)證效率。

i2C 子尋址觸發(fā)器變得簡(jiǎn)單

了解如何識(shí)別設(shè)備內(nèi)部使用的地址空間，快速隔離并提高驗(yàn)證效率。

在沒(méi)有數(shù)據(jù)的 I2C 幀上觸發(fā) - I2C 數(shù)據(jù)長(zhǎng)度觸發(fā)示例

您是否希望關(guān)注特殊的總線事件？ 您是否有根本不包含任何數(shù)據(jù)的幀？ 了解如何隔離這些以及更多。

抖動(dòng)對(duì) 100BASE-T 時(shí)序的影響

抖動(dòng)會(huì)導(dǎo)致通信系統(tǒng)出現(xiàn)重大問(wèn)題。 了解如何仔細(xì)查看相位/時(shí)間間隔抖動(dòng)以揭示主要困難。

其他疑問(wèn)

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