WavePulser 40iX 高速互連分析儀通過單次采集提供對頻域和時域強大的表征洞察力。
在一次采集中獲得信號路徑的完整表征：
精確定位電路中的損傷：
WavePulser 40iX 軟件通過其深度工具箱提供互連和電路的輕松分析和建模：
WavePulser 40iX 高速互連分析儀是高速硬件設計人員和測試工程師理想的單一測量工具，具有矢量網絡分析儀 (VNA) 和時域反射儀 (TDR) 所缺乏的所有特性和功能。 進行一次采集，然后在頻域和時域中進行測量。
WavePulser 40iX 驗證、調試和解決串行數據電纜、通道、連接器、過孔、背板、印刷電路板以及芯片和 SoC 封裝中的互連問題。 它的設置和使用非常簡單。它提供了與網絡分析儀相同的結果，但價格只是其一小部分。
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WavePulser 40iX 校準標準是內置的，因此校準始終是自動、簡單和快速的。 與需要購買額外的外部校準標準并需要手動連接進行校準的矢量網絡分析儀相比。 基于 TDR/TDT 的方法也獨立于設置，從而降低了校準頻率。
WavePulser 40iX 提供時域反射計 (TDR) 階躍響應和時間門控和/或仿真物理層響應，無需對直流和低頻進行外推 - 是高速串行數據互連分析的理想選擇。
WavePulser 40iX 高速互連分析儀通過一次采集測量單端和混合模式 S 參數。 無需重新獲取新數據即可更改設置并重新計算結果。
一次采集顯示所有測量結果：所有端口的混合模式回波和插入損耗； 差模和共模測量； 直流頻率響應。 表格圖形用戶界面使閱讀結果簡單明了。
一個簡單的設置只需要輸入頻率和端口數量進行單端采集。 選擇針對準確性或速度或介于兩者之間的優化的測試時間。 可以在軟件中重新配置端口，而無需重新連接到 DUT。 重新排序 Touchstone 文件中的 S 參數。
內部電子校準允許更快地開始測量并更有信心地進行測量。 被動性、互易性和因果關系執行等功能確保了更高的 S 參數測量精度。
WavePulser 40iX 高速互連分析儀以 < 1 mm 的空間分辨率測量阻抗曲線。
WavePulser 40iX 支持差模阻抗曲線和混合模式測量，并可同時顯示多種模式。 還可以查看階躍響應、脈沖響應和反射系數等。
使用阻抗曲線來檢測和定位高速串行數據互連中的常見問題：連接器松緊不當；損壞的電纜；不正確的電纜彎曲半徑；傳輸線上的缺陷通孔; 其他傳輸線路異常。
阻抗曲線檢測和定位測量設置中的損傷，而不僅僅是在 DUT 上，幫助您提高工作效率。 了解何時需要重復校準，何時不需要。
WavePulser 40iX 高速互連分析儀可以與 SI Studio 捆綁購買（WavePulser-40iX-BUNDLE），一款深度分析工具箱，專門用于理解高速串行數據互連特性。購買 NRZ 信號分析工具箱時，該工具箱作為標準配置提供。 WavePulser-40iX-BUNDLE。可以購買 WAVEPULSER-SISTUDIO-UPG-PAM，為 SI Studio 添加 PAM3 和 PAM4 信號分析功能
消除電纜和連接器對結果的影響。通過端口擴展或阻抗剝離算法設置門控，并保存包含或不包含門控區域的S參數。使用建模或測量的S參數對串行數據通道進行去嵌入處理。
導入或模擬波形，并使用S參數對損耗進行建模。通過直觀的串行數據眼圖快速查看損耗的影響。查看去嵌入和均衡對眼圖的影響。支持PLL、預加重、去加重、CTLE、FFE和DFE。
測量總 (Tj)、隨機 (Rj) 和確定性 (Dj) 抖動。 將確定性抖動分解為組成部分。 在頻譜、直方圖、抖動軌跡、眼圖和其他圖中查看抖動。